P. Vasseur


Co-auteur de publications scientifiques en ligne sur le site Internet du GRESPI en collaboration avec :

-Dans la thématique Thermique :
          -Philippe Grossel
          -Jean-Luc Bodnar
          -Salim Brahim Djelloul

-Dans la thématique Mécanique :
          -Damien ERRE
          -Serge ODOF
          -Suzanne Otari


Publications  en ligne (6)

Choix d'une année :

2011 2005 2004

[Articles CL] [Communications]

Articles dans des revues avec comité de lecture (1)

Suzanne Otari , Serge ODOF , J.B. Nolot , P. Vasseur , J. Pellot , N. Krajka , Damien ERRE
Statistical characterization of acceleration levels of random vibrations during transport, Packaging Technology and Science, Vol. 24(3), pp. 177-188, 2011.


[Articles CL] [Communications]

Communications avec actes (5)

Suzanne Otari , Serge ODOF , J.B. Nolot , P. Vasseur , J. Pellot , N. Krajka , Damien ERRE
Caractérisation statistique du signal excitateur destiné aux simulations vibratoires préconisé sur les emballages de transport pour marchandises dangeureuses, XIII ème Congrès de la Société Française de Génie des Procédés, SFGP 2011, Lille, France, 29 nov-1er déc, 2011.

Suzanne Otari , Serge ODOF , J.B. Nolot , P. Vasseur , J. Pellot , N. Krajka , Damien ERRE
Statistical Characterisation of Acceleration Levels of Random Vibrations during Transport, 25th IAPRI Symposium, Berlin, Germany, 16-18 May, 2011.

P. Vasseur , Jean-Luc Bodnar , Salim Brahim Djelloul , Philippe Grossel
Mesure de la profondeur à laquelle se situe un défaut par radiométrie photothermique infrarouge sous excitation aléatoire., Actes du congrès de la Société Française de Thermique 30 mai – 2 juin 2005, Reims, pp. 573-578

P. Vasseur , I. Darbord , Jean-Luc Bodnar , P. Hervé
Spectroscopie de phénomènes évanescents., Actes du colloque "mesures optiques pour l’industrie", 15-19 nov 2004, Saint Etienne, pp. 89-95

P. Vasseur , Jean-Luc Bodnar , Salim Brahim Djelloul , Philippe Grossel
Mesure de la profondeur à laquelle se situe un défaut par radiométrie photothermique infrarouge sous excitation aléatoire., Actes du colloque "mesures optiques pour l’industrie", 15-19 nov 2004, Saint Etienne, pp. 474-480