Publications  en ligne pour l'année 2008 (4)

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Ouvrages scientifiques (ou chapitres) (1)

Mihai CHIRTOC , Jean-Stéphane ANTONIOW , Jean-François HENRY , P. Dole , J. Pelzl
1, 2, 3 scanning thermal microscopy (SThM) and combinations with thermographic, radiometric, pyroelectric and thermoelastic techniques ; principles and applications, , Chap. 10, in : J.L. Bubendorff and F.H. Lei (Eds.), "Advanced techniques and applications on scanning probe microscopy", Transworld Research Network, Trivandrum, Kerala, 2008, pp. 197-247.

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Articles dans des revues avec comité de lecture (2)

J. Gibkes , Mihai CHIRTOC , Jean-Stéphane ANTONIOW , R. Wernhardt , J. Pelzl
Thermal characterization of micro-structured NiTi samples by 3 ? scanning, Europ. Phys. J., Special Topics, 153, pp 151-154, 2008

I. Delgadillo-Holtfort , E. Neubauer , Jean-Stéphane ANTONIOW , J. Gibkes , Mihai CHIRTOC , B.K. Bein , J. Pelzl
Photothermal and micro-thermal characterization of metal coated diamond cristallites, Europ. Phys. J., Special Topics, 153, pp 147-150, 2008

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Communications sans actes (1)

Nathalie Trannoy-Orban , Olivier Raphael , Françoise DEPASSE , Philippe Grossel , F.A. Guo , Jean-François HENRY
Caractérisation par microscopie à sonde locale, C NANO Grand Est – Workshop “Instrumentation et caractérisation”, Reims les 15 et 16 décembre 2008