Communication sans acte


Assessment of figures of merit for the resistive thermal probe used in scanning thermal microscopy
Int. Workshop on Quantitative Micro-Thermal Imaging and Analysis, ESPCI (Ecole Supérieure de Physique et de Chimie Industrielles), Paris, France, 9-10.06.2005

par   Mihai CHIRTOC , Jean-François HENRY , Jean-Stéphane ANTONIOW , J. Pelzl


Thématique du GRESPI concernée par cet article :

          -Thermique