Article dans une revue avec comité de lecture


Rear face photothermal analysis under random excitation and parametric analysis : Application to thermal diffusivity measurement
International Journal of Thermophysics, DOI 10.1007/s10765-012-1319-5, Sept. 2012.

par   Jean-Luc Bodnar , Salim Brahim Djelloul , Philippe Grossel , V. Detalle


Thématique du GRESPI concernée par cet article :

          -Thermique